I2C WinRT 读取测试（需要 EEPROM）

I2C 测试通过 Windows.Devices.I2c WinRT API 对用户模式公开的 I2C 控制器执行功能和压力测试。 测试分为两个部分-基本功能和压力测试，以及高级功能测试。 基本功能测试的测试范围包括：

• 验证是否可从 usermode 访问具有指定友好名称的 I2C 控制器。
• 验证数据是否在各种时钟速度和缓冲区长度（最大至8字节）范围内被正确写入（EEPROM页面大小）。
• 验证数据是否在时钟速度和缓冲区长度范围内正确读取。
• 验证是否在时钟速度和缓冲区长度范围内正确执行写入-重启-读取序列（WriteRead）。。
• 验证当写入、读取或 WriteRead 尝试到未确认的从属地址时，驱动程序将返回STATUS_NO_SUCH_DEVICE。 I2cDevice：：Write/Read/WriteRead（） 报告为 HRESULT_FROM_WIN32（ERROR_FILE_NOT_FOUND），由 I2cDevice：：WritePartial/ReadPartial/WriteReadPartial（） 报告为 I2cTransferStatus：：SlaveAddressNotAcknowledged。
• 验证 API 和驱动程序在压力条件下正常运行。 压力测试同时写入和读取两个 EEPROM，并在延长的持续时间内使用单独的设备句柄。

高级功能测试的测试范围包括：

• 验证数据在最长为 16384 字节的缓冲区中是否正确写入。
• 验证是否生成 I2C 重启条件以响应 WriteRead 序列。
• 验证当从属设备 NAK 仍在写入字节时，驱动程序会用STATUS_SUCCESS完成请求，并报告通过请求信息写入的实际字节数。 这称为部分传输，由 WritePartial（） 和 WriteReadPartial（） 报告为 I2cTransferStatus：:P artialTransfer。
• 验证时钟拉伸最多 500 毫秒是被允许的，并且不会导致传输失败。
• 验证当从属设备保持时钟线低（10+ 秒）时，驱动程序会在最多 10 秒内完成传输，并显示故障代码。 失败代码应为STATUS_IO_TIMEOUT，但出于兼容性原因尚未验证。

基本功能测试和压力测试针对两个外部连接的 EEPROM 运行。 高级功能测试运行于搭载自定义固件的mbed LPC1768。 mbed LPC1768 是一个流行的微控制器原型制作平台，可以从各种在线零售商（包括 Farnell、 Digikey 和 Adafruit）购买。 更新 mbed 的固件与拖放文件一样简单。 github 上提供了固件源代码。 下面提供了有关准备 mbed 和运行测试的说明。

测试详细信息

其他文档

此功能区域中的测试可能有其他文档，包括先决条件、设置和故障排除信息，可在以下主题中找到：

• Device.BusController 补充文档

运行测试

运行基本功能和压力测试

需要以下硬件才能运行测试：

• Atmel AT24HC 串行 EEPROM qt. 2
• 10k电阻 数量2个
• 面包板
• 电线

按下图所示连接 EEPROM，并将 SDA 和 SCL 连接到受测设备。

现在可以从 HLK 管理器安排基本的功能和压力测试。

运行高级功能测试

高级功能测试验证 NACKing 行为、挂起总线条件、时钟拉伸和重复启动。 测试需要运行自定义固件的 mbed LPC1768才能连接到受测试的设备。 在运行测试之前，必须将 HLK 固件加载到 mbed LPC1768。 下面介绍如何更新固件：

1. 通过 USB 将 mbed LPC1768插入电脑。 它将显示为电脑上的可删除驱动器。
2. 在文件资源管理器中打开驱动器
3. 将 c：\Program Files （x86）\Windows Kits\10\Hardware Lab Kit\Tests\x86\iot\busses-tester-mbed_LPC1768.bin 复制到 mbed
4. 按 mbed 上的按钮重置微控制器

接下来，将 mbed 连接到受测设备。 将 mbed 通过 USB 插入到您的测试设备中。 然后，建立 I2C 连接（mbed 引脚），

1. 将 mbed 引脚 9 （P0.0/SDA） 连接到受测设备上的 SDA 引脚
2. 将 mbed 引脚 10 （P0.1/SCL） 连接到受测设备上的 SCL 引脚
3. 将 mbed GND 连接到受测设备上的 GND 引脚

mbed 在 SDA 和 SCL 线上启用了内部上拉电阻，并且不需要外部上拉电阻。

现在可以从 HLK 管理器计划高级功能测试。

故障排除

有关 HLK 测试失败的一般故障排除步骤，请参阅 Windows HLK 测试失败排查指南。

建议在命令行上运行测试，以便深入了解故障并快速循环访问解决方案。 下面介绍如何在命令行上运行测试：

1. 将 %programfiles（x86）%\Windows Kits\10\Testing\Runtimes\TAEF\<arch>\MinTe 复制到 c：\data\minte

2. 将 Windows.Devices.LowLevel.UnitTests.dll 从 %programfiles（x86）%\Windows Kits\10\Hardware Lab Kit\Tests\<arch>\iot 复制到设备上的 c：\data。

3. 使用 Telnet 或 SSH 连接到您的设备

4. 将目录更改为 c：\data

5. 运行测试：

   minte\te windows.devices.lowlevel.unittests.dll /name:I2c*
   

命令行测试用法：

minte\te windows.devices.lowlevel.unittests.dll [/name:test_name] [/select:select_clause] [/p:I2cFriendlyName=friendly_name] [/p:Duration=duration]

• test_name - 要运行的测试的名称，其中包括通配符。 示例：/name:I2c*、/name:I2cEepromWriteTests#metadataSet0::VerifyWrite#metadataSet0
• select_clause - TAEF 选择子句。 示例：/select：“@name='I2c*' and not（@name='I2cTestsEx*'）”
• friendly_name - 受测的 I2C 控制器的友好名称。 如果省略，则使用第一个列举的控制器。 示例：/p：I2cFriendlyName=I2C0
• 持续时间 - 运行压力测试的时间。 示例：/p：Duration=10s（10 秒）、/p：Duration=1m （1 分钟）、/p：Duration=2h（2 小时）、/p：Duration=1d （1 天）

例子：

若要运行基本功能测试，

minte\te windows.devices.lowlevel.unittests.dll /select:"@name='I2c*' and not(@name='I2cTestsEx*')"

若要运行高级功能测试，

minte\te windows.devices.lowlevel.unittests.dll /name:I2cTestsEx::*

若要针对特定的 I2C 控制器实例运行测试，请将友好名称传递给 I2cFriendlyName 测试参数，

minte\te windows.devices.lowlevel.unittests.dll /name:I2c* /p:I2cFriendlyName=I2C0

若要运行特定测试，请将完整测试名称传递给 /name 参数：

minte\te windows.devices.lowlevel.unittests.dll /name:I2cNonexistentSlaveAddressTests::TestWriteRead

若要运行压力测试，建议的持续时间为 8 小时，请运行

minte\te windows.devices.lowlevel.unittests.dll /name:I2cStressTests::StressIoConcurrent /p:Duration=8h

有助于进行手动故障排除的工具是 I2cTestTool。 I2cTestTool 是一个简单的实用工具，用于从命令行与 I2C 交互。

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